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2008년04월30일 00시00분
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라식복병 진단용 'DNA칩' 국내 개발
세브란스·카이스트 공동연구팀

라식 수술의 복병으로 알려진 ‘아벨리노 각막이상증’을 진단할 수 있는 DNA 유전자 칩이 국내 연구진에 의해 개발됐다.

세브란스병원 안과 김응권 교수팀(한국과학기술원(KAIST) 이상엽 교수팀·㈜메디제네스 연구팀 공동)은 "DNA칩을 이용해 아벨리노 각막이상증을 쉽게 진단할 수 있게 됐다"고 지난 25일 밝혔다.

아벨리노 각막이상증은 양안 각막 중심부가 혼탁해지는 유전질환으로 라식이나 라섹 등 레이저를 이용한 시력교정술을 받으면 각막 혼탁이 급격히 진행돼 시력이 저하되고 심한 경우 실명에 이를 수 있다.

각막이상증의 국내 빈도는 1,320명당 1명꼴로 현재 약 4만여명의 환자가 있을 것으로 추정된다.

김 교수팀에 따르면 이번에 개발된 진단방법은 환자의 혈액에서 DNA를 분리하고 이를 칩에 적용해 판독기로 읽게 된다. 이때 특정 돌연변이 유무를 진단하는 DNA칩은 아벨리노 각막이상증 관련 유전자만 골라낸다.

이 경우 현미경으로 안구를 관찰하던 기존 검사보다 정확도는 떨어지지 않으면서 검사 시간(2~3일)과 노력이 대폭 절감된다는 것이 연구팀의 설명이다.

김응권 교수는 “기존 검사는 안구를 관찰해 아벨리노 각막이상증 환자를 가려내는 방법으로 7일 정도 소요됐고 의사의 높은 숙련도를 요구해 왔다. 이번 진단법은 시간을 축소, 대량 검사도 가능하다”고 강조했다.

한편, 김 교수팀은 국내 의료벤처회사인 메디제네스와 기술 제휴해 DNA칩 진단기법을 이미 확립했으며 이달부터 국내는 물론 세계시장으로 진입을 계획하고 있다. 

 

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조현진 (www.bktimes.net) 기자 
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